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Propiedades ópticas y estructurales del silicio amorfo hidrogenado con diversos grados de cristalinidad

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dc.contributor.advisor Koropecki, Roberto
dc.contributor.author Rinaldi, Pablo Andrés
dc.contributor.other Gennero, María Rosa
dc.contributor.other Feugeas, Jorge Nestor
dc.contributor.other De Sanctis, Oscar
dc.creator Rinaldi, Pablo Andrés
dc.date.accessioned 2012-09-27
dc.date.available 2012-09-27
dc.date.issued 2012-09-27
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/11185/395
dc.description Fil: Rinaldi, Pablo Andrés. Universidad Nacional del Litoral. Facultad de Ingeniería Química; Argentina.
dc.description.abstract En esta tesis se estudia paso a paso, mediante técnicas de caracterización óptica y estructural, la cristalización del a-Si:H depositado sobre vidrio mediante PECVD (deposición química en fase vapor asistida por plasma). Las técnicas de reflectancia en UV, rayos X, Raman, y espectrometría fotoacústica (PAS) son usadas para analizar la transición desde el estado amorfo al cristalino usando la técnica de recocido escalonado hasta los 600ºC, este procedimiento conduce a un silicio nanocristalino. Las transmitancias en la región visible e infrarrojo cercano son utilizadas para obtener constantes ópticas y mediante el modelo teórico de Hu et al. se calculó la difusividad térmica del a-Si:H a partir de las señales fotoacústicas en muestras recocidas a temperaturas correspondientes a la máxima efusión de cada hidruro. Se encontró que existe un ascenso en la señal fotoacústica en las muestras recocidas a temperaturas inferiores a 500ºC, que representa una transición vítrea, esto es, un descenso abrupto en la capacidad calorífica, que se manifiesta en la difusividad térmica, y a una temperatura crítica de aprox 425ºC. Esta transición, que no es detectada por las otras técnicas mencionadas, es producida por un reacomodamiento de enlaces Si-H. La conductividad térmica se mantiene constante dado que las temperaturas menores a 500ºC se apartan mucho de las correspondientes a la nucleación y cristalización. Se concluye además que en las medidas de PAS el efecto térmico del sustrato de vidrio es despreciable. es
dc.description.abstract In this thesis a step by step study of the crystallization of a-Si:H is performed by using techniques of optical and structural characterization. The semiconductor is deposited on glass by PECVD (Plasma Assisted Chemical Vapor Deposition). UV reflectance, X-ray, Raman, and photoacoustic spectroscopy (PAS) techniques are used to analyze the transition from amorphous to crystalline state using the technique of stepwise annealings up to 600ºC, this procedure leads to nanocrystalline silicon. Transmittance spectra in the visible and near infrared region are used to obtain optical constants. Using the theoretical model of Hu et al. the thermal diffusivity of a-Si:H has been obtained from the photoacoustic signals in samples annealed at temperatures corresponding to the largest effusion of each hydride. A jump has been observed in the photoacoustic signal for samples annealed at temperatures below 500°C, which correspond to a glass transition, i.e. a sharp drop in heat capacity, which is manifested in the thermal diffusivity, and a critical temperature aprox 425°C. This transition, not detected by the other techniques mentioned, is produced by a rearrangement of Si-H bonds. The thermal conductivity is constant for annealing temperatures lower than 500ºC, far from the corresponding to the nucleation and crystallization temperatures. We conclude that in our photoacoustic experiment, the thermal effect of the glass substrate is negligible. en
dc.description.sponsorship Agencia Nacional de Promoción Científica y Tecnológica es
dc.description.sponsorship Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
dc.format application/pdf
dc.format pdf
dc.format.mimetype application/pdf
dc.language spa
dc.language.iso spa es
dc.rights http://bibliotecavirtual.unl.edu.ar/licencia.html
dc.rights info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri https://bibliotecavirtual.unl.edu.ar/licencia/licencia.html
dc.subject Silicio amorfo es
dc.subject Película delgada es
dc.subject Fotoacústica es
dc.subject Amorphous silicon en
dc.subject Thin film en
dc.subject Photoacoustic en
dc.title Propiedades ópticas y estructurales del silicio amorfo hidrogenado con diversos grados de cristalinidad es
dc.title.alternative Optical and estructural properties of hydrogenated amorphous silicon with various degrees of crystallinity en
dc.type Thesis es
dc.type info:ar-repo/semantics/tesis doctoral
dc.type info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
dc.type SNRD
dc.type info:eu-repo/semantics/acceptedVersion
dc.contributor.coadvisor Roman Buitrago
unl.formato application/pdf
unl.versionformato 1a
unl.tipoformato PDF/A-1a


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